三维测量装置[发明专利]

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专利名称：三维测量装置专利类型：发明专利发明人：石垣裕之,间宫高弘申请号：CN201780014921.5申请日：20170215公开号：CN108713127A公开日：20181026

摘要：提供一种三维测量装置，能够利用波长不同的光扩大测量范围，并且通过测量效率。三维测量装置(1)包括：第一投光系统(2A)，使作为第一波长光和第二波长光的合成光的第一光入射至入射偏振分光器(60)的第一面(60a)；第二投光系统(2B)，使作为第三波长光和第四波长光的合成光的第二光入射至入射偏振分光器(60)的第二面(60b)；第一拍摄系统(4A)，能够将从所述第二面(60b)射出的第一光涉及的输出光分离为第一波长光涉及的输出光和第二波长光涉及的输出光并分别拍摄这些光；以及第二拍摄系统(4B)，能够将从所述第一面(60a)射出的第二光涉及的输出光分离为第三波长光涉及的输出光和第四波长光涉及的输出光并分别拍摄这些光。

申请人：CKD株式会社

地址：日本爱知县

国籍：JP

代理机构：北京东方亿思知识产权代理有限责任公司

代理人：刘军

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