（12）实用新型专利
（21）申请号 CN201720700997.0 （22）申请日 2017.06.16
（71）申请人 杭州市质量技术监督检测院
地址 310019 浙江省杭州市江干区九环路50号
（10）申请公布号 CN207050886U
（43）申请公布日 2018.02.27
（72）发明人 朱腾飞;姜程东;慎月强;王聪
（74）专利代理机构 杭州之江专利事务所(普通合伙)
代理人 张慧英
（51）Int.CI
权利要求说明书 说明书 幅图
（54）发明名称
一种用于OLED寿命加速试验的温度测控模组
（57）摘要
本实用新型涉及一种用于OLED寿命加速
试验的温度测控模组，包括：若干个测温探头、连接线、温度测试仪、导热基座；测温探头分散设在OLED平板上，测温探头通过连接线与温度测试仪连接；OLED平板设于导热基座上方，OLED平板的发光面向上，OLED平板的背面朝向导热基座，导热基座用于散热。本实用新型可以得到可靠的样品温度数据，进而可以实现推算OLED寿命时间及分析OLED衰减程度等目的；并且消除了
OLED温度分布不均匀的缺陷，以及有误差的温度值，得到准确的综合温度数据，用以保证寿命加速实验数据的可靠性。
法律状态
法律状态公告日
2018-02-27 2018-02-27 2020-06-02
法律状态信息
授权 授权 专利权的终止
法律状态
授权 授权
专利权的终止
权利要求说明书
一种用于OLED寿命加速试验的温度测控模组的权利要求说明书内容是....请下载后查看
说明书
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