专利名称：一种MEMS器件的全硅化圆片级真空封装方法及封
装器件
专利类型：发明专利
发明人：邢朝洋,胡启方,刘福民,刘国文,徐宇新,刘宇申请号：CN201510679727.1申请日：20151019公开号：CN105293428A公开日：20160203
摘要：本发明涉及一种MEMS器件的全硅化圆片级真空封装方法及封装器件。采用平面电极引出方案，仅采用单个密封金属环即实现了器件的真空密封。采用平面电极的电信号引出方式有效的避免了全硅圆片封装工艺中常见的引入较大寄生电容的问题。本发明采用硅引线实现电互连，因此整体封装工艺具有更高的工艺兼容温度，从而可以在引线上制备更高密度更高质量的绝缘介质层，从而提高了器件的加工成品率和长期使用的可靠性。
申请人：北京航天控制仪器研究所
地址：100854 北京市海淀区北京142信箱403分箱
国籍：CN
代理机构：中国航天科技专利中心
代理人：褚鹏蛟
更多信息请下载全文后查看
因篇幅问题不能全部显示，请点此查看更多更全内容